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高頻介電常數測試設備
產品簡介

LDJD-C高頻介電常數測試設備可用于固體絕緣材料在高頻(100KHz-160MHz)下,高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介電常數和介質損耗因數,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等電性能的測試。可選配自動測試模塊進行介電常數的自動測量。

產品型號:LDJD-C
更新時間:2025-06-10
廠商性質:生產廠家
訪問量:2686
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LDJD-C高頻介電常數測試設備

LDJD-C高頻介電常數測試設備可用于固體絕緣材料在高頻(100KHz-160MHz)下,高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介電常數和介質損耗因數,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等電性能的測試。可選配自動測試模塊進行介電常數的自動測量。

適用標準

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法》(等效IEC 602501969

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法》

ASTM D150 Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation 

 手動介電常數測試方法與步驟

1.       測試前主機建議預熱30分鐘

2.       把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

3.       在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。

4.       被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平整。(小于0.5mm的樣品測試,請參考附錄三,疊加測試法)

5.       調節S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設置為0。

  1. 再松開兩片極片,把被測樣品夾入平板電容上下極片之間,調節S916測試夾具的測微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調節時要用S916測試夾具的測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值,既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調電容容量(旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量),使主機處于諧振點(Q值大值)上。
  2. 取出S916測試夾具中的樣品,這時主機又失去諧振(Q值變小),此時調節S916測試夾具的測微桿,使主機再回到諧振點(Q值大值)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4.
  3. 計算被測樣品的介電常數:

     Σ=D2 / D4

 

自動介電常數測試方法與步驟(需選配自動測試軟件模塊)

1.     自動介電常數測試時,基本步驟同手動一樣,只是主機支持通過數據模塊記錄S916測試夾具的數據,并自動計算出介電常數。

2.     使用數據轉換連接線,連接S916數據傳輸接口和介電常數測試主機背板上的四芯插座。

3.     按主機鍵盤區“2”按鍵di一次

4.     當S916測試夾具夾緊待測材料,調節主機的主調電容使主機諧振,此時第二次按主機鍵盤區“2”按鍵。此時主機將保留終的D2數據

5.     拿出被測材料,再次調節S916測試夾具的上下極片,直到主機再次諧振,后再一次按下主機鍵盤區“2”按鍵,主機保存D4數據,并計算出介電常數的數值。顯示下圖界面,此時主機已經把計算出的介電常數e顯示在顯示屏上。

6.     按主機鍵盤區“Q”按鍵退出測試,結束測試。

試驗步驟

1. 試樣的制備

試樣應從固體材料上截取,為了滿足要求,應按相關的標準方法的要求來制備。


應精確地測量厚度,使偏差在±0.2%0.005mm)以內,測量點應均勻地分布在試樣表面。必要時,應測其有效面積。

2.條件處理

條件處理應按相關產品規范規定進行。

3.測量

電氣測量按說明書進行測量。

1MHz或更高頻率下,必須減小接線的電感對測量結果的影響。此時,可采用同軸接線系統,當用變電抗法測量時,應提供一個固定微調電容器。

  

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